Workshop - La microscopia elettronica applicata allo studio dei Beni Culturali - Urbino, 6-7 febbraio 2017
Pubblicato: Mercoledì 18 gennaio 2017
Evento organizzato da SISM (Società Italiana Scienze Microscopiche) con il supporto dell'Università di Urbino e dedicato
a professionisti, docenti, ricercatori, tecnici e studenti che operano nel campo dello studio, della conservazione e del restauro dei beni culturali.
Sarà dedicata particolare importanza alle applicazioni delle microscopia elettronica, nei suoi diversi approcci metodologici.
Relatori esperti nel settore illustreranno, nell'Aula Magna del Campus, i loro dati più recenti sulla caratterizzazione morfologica ultrastrutturale e chimica dei materiali costitutivi le opere d’arte, in particolare pietre, ceramiche, vetri, metalli, monili, materiali policromi, legno, carta, pergamena, tessuti e materiali polimerici.
Oltre alle relazioni in aula, ci saranno delle esercitazioni pratiche in laboratorio sulla preparazione di campioni specifici, e uno spazio dedicato alle Aziende.
E’ prevista infine una sessione di poster, che saranno esposti per tutta la durata del workshop, in cui laureandi e laureati possono presentare i propri lavori.
Le iscrizioni sono previste entro il 31 gennaio 2017.
Programma allegato
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Allegato
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